掃描電鏡鎢燈絲的維護(hù)保養(yǎng)與存儲 二維碼
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1.準(zhǔn)確對中燈絲 安裝、更換新燈絲時仍需檢查燈絲的對中情況,**將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下,看燈絲是否居中,否則很容易導(dǎo)致燈絲亮度偏暗,而由此操作者又會增加偏壓或電流來提高亮度,損傷燈絲。 2.適當(dāng)增加燈絲高度 燈絲工作時發(fā)射電子束,燈絲的發(fā)射束流與燈絲的加熱電流和燈絲高度有關(guān), 燈絲高度越大, 則燈絲達(dá)飽和點(diǎn)的工作溫度就越低,燈絲表面蒸發(fā)得也越慢。因此在保證理論高度的條件下, 我們可以將燈絲高度適當(dāng)增加。新型掃描電鏡一般配有幾個可選燈絲墊片,其型號不一樣,厚薄也不一樣。在滿足觀察要求的情況下,我們可以選擇厚一點(diǎn)的墊片以增加燈絲高度,減少燈絲飽和電流。 3.及時手動調(diào)整燈絲電流 在掃描電鏡使用過程中,應(yīng)經(jīng)常觀察燈絲的飽和程度,當(dāng)發(fā)現(xiàn)燈絲電流不在飽和狀態(tài)時,適當(dāng)手動調(diào)整燈絲電流,使燈絲處于飽和狀態(tài)。另外新型掃描電鏡電子槍的調(diào)整一般分全自動調(diào)整和半自動調(diào)整,我們一般應(yīng)選擇半自動調(diào)整。否則,當(dāng)自動調(diào)整電子槍時,燈絲電流也將一起調(diào)整且長時間處于過大電流,極大地消耗燈絲,嚴(yán)重影響燈絲壽命。 4.保持鏡筒的高真空度 隨時注意鏡筒是否存在微小泄露,同時保證各級泵的性能,必要時要更換泵油。再有就是待觀察樣品應(yīng)盡量干燥、無揮發(fā)性物質(zhì)。 York Probe Sources (YPS) Ltd 是電子光學(xué)器件的專業(yè)制造商。YPS為各種機(jī)器制造和供應(yīng)自己的電子發(fā)射器(肖特基場發(fā)射類型),包括 SEM、電子微探針、電子束光刻和其他電子束儀器。YPS為需要高亮度電子光學(xué)器件的客戶提供定制解決方案,以滿足眾多平臺和最終用戶的要求。 YPS熱場發(fā)射(FE)電鏡燈絲可以用在多種聚焦電子束系統(tǒng)上,如SEM,TEM,Auger和CD-SEM等;其優(yōu)異穩(wěn)定的質(zhì)量可以和FEI及Denka媲美,且互換;適用于多種電鏡如 Hitachi, JEOL, ZEISS, FEI , PHI , Tescan 等。 5.其他一些有益措施 ( 1) 新燈絲的表面可能吸附一定量的空氣、水汽,當(dāng)它被安裝到電鏡鏡筒里時,會從燈絲表面緩緩釋放,影響鏡筒的真空度,腐蝕燈絲。因此,新燈絲在更換前要先經(jīng)過“去潮、去氣”處理,可在 45℃電熱箱內(nèi)放置數(shù)小時,然后放入透射電鏡底片抽氣室預(yù)抽氣數(shù)小時以除去新燈絲上吸附的殘余空氣和水汽。 ( 2) 干燥好的樣品若暫時不用,可放在干燥器或真空中保存,樣品粘臺后**放入透射電鏡底片抽氣室預(yù)抽氣數(shù)小時再放入電鏡觀察。 ?。?3) 飽和點(diǎn)調(diào)低一點(diǎn),滿足要求即可。掃描電鏡鎢燈絲有兩個飽和點(diǎn):第 2 飽和點(diǎn)用于高分辨率觀察照相,如果對圖像要求不高或做EDS,可以在**飽和點(diǎn)工作,這樣可以延長燈絲的壽命。 ?。?4) 高真空抽到后等幾分鐘,讓真空度更高。換樣品放氣前等幾分鐘,讓燈絲冷卻下來再放氣,避免過熱燈絲與大氣接觸氧化燈絲。 ?。?5) 加速電壓不宜用得過高,滿足要求即可,能用低電壓就不用高電壓。放大倍數(shù)不超過一萬倍時一般 15-20 Kv 就可以了。同時,應(yīng)保持工作電壓與工作距離的相對穩(wěn)定,如無特殊需要, 不要經(jīng)常更換電壓與工作距離。因為頻繁更改電鏡工作參數(shù)不利于電鏡穩(wěn)定工作。 ?。?6) 平時盡量少頻繁開關(guān)燈絲,次數(shù)過多對燈絲不利通過以上措施,經(jīng)過5年來的實踐,成功將掃描電鏡鎢燈絲壽命由原來的 70-120 小時最多延長至 1241 小時。不僅大大減少了維護(hù)費(fèi)用,同時很好的保證了電子顯微鏡的高效、穩(wěn)定運(yùn)行。 DENKA TFE是一種ZrO/W發(fā)射器,通過用吸收的鋯和氧層覆蓋其單晶鎢針的表面,對鎢的功功能降低。由于其亮度是單晶LaB100陰極的6倍,并且發(fā)射電子的能量寬度很小,因此即使在低光束電壓下,探針也可以聚焦得更小。因此,DENKA TFE最適合半導(dǎo)體材料和器件的表面觀察。此外,由于其極其穩(wěn)定的發(fā)射電流和較長的使用壽命,DENKA TFE被用于各種電子束應(yīng)用設(shè)備,如半導(dǎo)體檢查器和電子束光刻設(shè)備。 免責(zé)聲明:內(nèi)容來源于網(wǎng)絡(luò)收集整理,僅供參考;本站僅僅是為了更好地提供歐美MRO工業(yè)品備件產(chǎn)品信息,方便用戶查找、認(rèn)識歐美工業(yè)備品備件。文中涉及的品牌、商標(biāo)所有權(quán)、型號解釋權(quán)都?xì)w原廠商所有。 |